檢索結果:共2筆資料 檢索策略: "k-means".ekeyword (精準) and year="97"
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本研究提出一套發光二極體自動瑕疵檢測系統,利用各種數位影像處理技術於晶粒瑕疵辨識中。檢測項目包含正常晶粒、破晶、電極區刮痕瑕疵、電極區殘金瑕疵、發光區刮痕瑕疵與發光區剝落瑕疵。 本研究主題分…
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在過去數年中,入侵偵測系統已經是資訊安全中不可或缺的一部分,由其是運用資料探勘及分析方法論已被用來探勘及學習各類攻擊的特性。又,正確性及適應性為入侵偵測系統所需要件,為了讓入侵偵測系統適應各種型式的…